仪器介绍

Lam750(S)型紫外/可见/近红外分光光度计的光学系统为双光束，双单色器，四区分段的扇形信号收集的斩波器，低杂散光指标，用于材料定性的无损测定。带60mm积分球和软件的Lambd750 紫外/可见（近红外）分光光度计，波长范围： Lambda750为190～2500nm，整机及光学系统采用宇航技术的硬件：整个光学系统均采用涂覆SiO2的全息刻线光栅(紫外/可见刻线数为1440条/Mm，近红外360条/Mm)，分光系统采用最先进的CSSC技术（四区分段的扇形信号收集的斩波器技术，黑区/样品/黑区/参比循环）采用预校准并可自动切换的碘钨灯与氘灯；宽大的样品仓：可放入各种附件并将光路调整至最佳，可选附件最多（如积分球、固定/可变角的相对/绝对镜反射附件等）稳定性好、基线平直度高、杂散光极低! 仪器及其稳定、经久耐用。

技术指标

1、 仪器工作环境

1.1 电压：220VAC±10%

1.2 室温：15～30℃

1.3 相对湿度：20%～80%

2、 仪器性能：   

2.1 光学系统：双光束，双单色器,整个光学系统采用涂有SiO2保护层的反射光学元件，全息刻线光栅刻线密度为1440条/Mm（紫外可见）、360条/Mm(近红外)，四区分段的扇形信号收集的斩波器。            

2.2光谱范围：190-2500nm ，波长指示：0.01nm步进 

2.3检测器：光电倍增管（UV～VIS），冷的PbS（NIR）         

2.4带宽：带宽指示：自动控制

（1）UV～VIS：0.17nm～5nm， 0.01nm步进

（2）NIR：0.20nm～20.00nm，0.04nm步进   

2.5波长精确度：自动波长校正。

（1）UV～VIS：±0.15nm；（2）NIR：±0.1nm。 

波长重复性：（1）UV～VIS：±0.06nm。

（2）NIR：±0.1nm。          

2.6杂散光：0.00008%(NaI220nm10g/L光

       0.00005%(NaNO2340nm50g/L光程10mm)；

0.0015%(氯仿1690nm光程10mm)

2.7光度计准确度：0至0.5Abs，±0.0006Abs；0.5至1.0Abs，±0.0012Abs；遵循NISTSRM930方法为±0.3%T。

2.8光度计重复性：小于0.001A。

2.9基线平直度： <±0.0008Abs；

2.10 仪器线性范围：6A                

2.11噪声：＜0.00005A。